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發(fā)布時間:2024-01-08
關鍵詞:半導體激光器檢測
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來源:北京中科光析科學技術研究所
因業(yè)務調(diào)整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
北京中科光析科學技術研究所根據(jù)相應半導體激光器檢測標準為您提供各種樣品的波長、輸出功率、譜線寬度、線性度、效率、溫度穩(wěn)定性、噪聲、脈沖響應、相位噪聲、激光束質(zhì)量等各種半導體激光器檢測項目的分析測試。中析研究所具備CMA資質(zhì)認證,是一家高新技術企業(yè),屬于正規(guī)的第三方檢測機構。我們的檢測周期短,檢測費用低,給予您優(yōu)質(zhì)、便捷的服務和準確的檢測結果。
中析研究所可提供波長穩(wěn)定性、輸出功率穩(wěn)定性、光譜線寬度、波長調(diào)諧范圍、波長精度、光譜純度、相位噪聲、效率、調(diào)制帶寬、噪聲指數(shù)、工作溫度范圍、工作電流范圍、閾值電流、斜率效率、工作壽命、發(fā)射速度、抑制比、反向電壓、差分量子效率、量子效率、泵浦功率、脈沖寬度、脈沖重復頻率、脈沖能量、自發(fā)輻射損失、瞬時頻率偏移、激光束發(fā)散角、模式抑制比、模式間隔、調(diào)制深度、過調(diào)制損耗、同軸模式品質(zhì)因數(shù)、動態(tài)變化響應時間、光電流線性度、耦合效率等項目的檢測。
半導體激光器檢測一般包括:全息激光器、雙折射激光器、DFB激光器、VCSEL激光器、FP激光器、DBR激光器、QCL激光器、Raman激光器、THz激光器、CO2激光器等。
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JIS C5940-1997 光傳輸用半導體激光器通則
JIS C5941-1997 光傳輸用半導體激光器試驗方法
半導體激光器檢測涉及的儀器包括:
激光功率計:用于測量半導體激光器的輸出功率。激光功率計通常包括光功率探測器和顯示器,可以測量激光的功率和功率穩(wěn)定性。
光譜儀:用于分析半導體激光器的光譜特性。光譜儀可以測量激光器的波長、光譜分布和線寬等參數(shù),評估激光器的光學性能。
溫度控制設備:用于精確控制半導體激光器的工作溫度。溫度對半導體激光器的性能穩(wěn)定性和壽命有重要影響,因此需要通過溫度控制設備來保持恒定的工作溫度。
光學顯微鏡:用于檢查半導體激光器的外觀和內(nèi)部結構。光學顯微鏡可以觀察激光器的封裝質(zhì)量、焊接連接、芯片狀況等,幫助評估激光器的制造質(zhì)量。
效率測試設備:如外部量子效率測試儀,用于評估半導體激光器的效率。這些儀器可以測量激光器的電光轉(zhuǎn)換效率、光電轉(zhuǎn)換效率等參數(shù),確定激光器的性能和質(zhì)量。